对于对称性破缺的体系，在表面/界面处存在电势梯度，电子自旋-轨道耦合（SOC）导致能带劈裂，产生一对自旋—动量锁定、自旋手性相反的能带结构，这种效应称为Rashba效应。Rashba效应在非易失性存储元件、逻辑计算和半导体自旋电子学中有非常广泛的应用前景，例如，大的Rashba劈裂可以提高自旋流-电荷流的转化效率。
以往的研究主要集中在半导体或金属异质结的界面或二维电子气体系的Rashba效应，但是它们的Rashba系数相对较小。近年来人们发现一些铁电半导体具有巨大的三维Rashba效应，其Rashba系数比异质结或二维电子气的高两个数量级，但是到目前为止，其尺寸效应尚不清楚。
中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心磁学国家重点实验室M04课题组利用分子束外延（MBE）方法，实现生长不同厚度的铁电半导体GeTe薄膜，并对不同厚度的薄膜进行角分辨光电子能谱（ARPES）的测量。结果表明，随着薄膜厚度的降低，体Rashba系数逐渐降低，满足标度律，三维Rashba效应的临界厚度为2.1(±0.5)nm，与ARPES测得的2.5 nm薄膜结果相一致。
在厚度为5.0nm时，体系依旧保持着αR=2.12 eV Å，远高于其它体系中的Rashba系数。利用电极化强度与贝利曲率的关系，阐明了Rashba效应消失的机理。该工作不仅给出了铁电半导体Rashba系数随厚度的变化关系，同时揭示了三维Rashba效应的影响因素，可为利用Rashba效应的器件提供一个新的设计思路。相关工作发表在Nano Letters 2021, 21,77-83。
博士生杨旭为论文第一作者，成昭华研究员，何为副研究员为共同通讯作者。物理所表面实验室SF01组博士后李晓梅，白雪冬研究员在高分辨扫描透射电子显微镜测量方面给予了大力支持。该项研究工作得到了国家重点研发计划、国家自然科学基金和中国科学院前沿科学研究计划的资助。